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Liste des matières

Génie Électrique :

Test de systèmes électroniques

Objectifs Spécifiques :

Buts et objectifs des tests. Défauts physiques et modèles de pannes. Génération de tests pour les circuits combinatoires, séquentiels et analogiques. Tests de matrices logiques programmables (PLA) et de mémoires. Simulation de défauts. Conception pour la testabilité structurée. Auto-test incorporé dans un circuit. Tests au niveau plaque; tests industriels. Techniques de mesure et de caractérisation. 

Ressources disponibles :


Cours 11 Travaux dirigés 6 Travaux pratiques 0 Contrôle continu 0 Examen terminal 0

M. Khouas Abdelhakim | Ecole Polytechnique Montréal

Cours

Chapitre 1 : Introduction


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Chapitre 2 : Testeurs et test industriel


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Chapitre 3 : Modélisation de fautes/pannes


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Chapitre 4 : Simulation de fautes/pannes


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Chapitre 5 : Génération automatique des vecteurs de test


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Chapitre 6 : Conception en vue du test (DFT) : Chemin de Scan


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Chapitre 7 : Conception en vue du test (DFT) : Test intégré (BIST)


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Chapitre 8 : Conception en vue du test (DFT) : Boundary-Scan (JTAG)


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Chapitre 9 : Génération aléatoire et exhaustive de vecteurs de test


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Chapitre 10 : Test des mémoires et des circuits programmables


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Chapitre 11 : Test des circuits analogiques


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Td

Exercices et Solutions de chapitre 1: Introduction au Test de Systèmes Électronique


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Td

Exercices et Solutions de chapitre 3 : Modélisation de fautes/pannes


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Td

Exercices et Solutions de chapitre 4 : Simulation de fautes/pannes


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Td

Exercices et Solutions de chapitre 5 : Génération automatique des vecteurs de test


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Td

Exercices de chapitre 6 : Conception en vue du test (DFT) : Chemin de Scan


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Td

Exercices de chapitre 9 :Génération Aléatoire et Exhaustive de Vecteurs de Test


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